研究内容：

      1) 液晶相控阵天线系统架构设计。

      开展液晶相控阵天线系统架构设计研究。研究天线阵列、移相匹配层、液晶移相器、馈电网络、控制网络等硬件设计及系统集成架构，在此基础上完成液晶相控阵天线的关键部件（天线阵列、液晶移相器）及通用件的设计、选型及功能、性能指标分解，形成液晶相控阵天线总体方案。

      2) 低剖面宽角液晶波束扫描天线设计

      开展低剖面宽角液晶波束扫描天线设计，充分考虑液晶相控阵天线集成架构、应用环境、阵元间的互耦效应、扫描阻抗匹配等因素的限制，通过阵列优化设计弱化单元间耦合，实现液晶相控阵天线的低剖面宽带宽角扫描设计，同时兼顾波束广域扫描下的方向图低副瓣优化设计。

      3) 大移相范围、低损耗液晶移相器设计与制备

      开展大移相范围、低损耗液晶移相器设计技术研究，解决目前的液晶移相器件体积大、重量大、功耗高、不易与微电子驱动电路相结合的难题。开展低驱动电压、相位调制灵活的液晶移相器设计及相关材料、工艺技术研究，支撑波束快速、灵活控制和空间扫描，提升液晶相控阵天线的系统集成度，提升系统柔性控制能力，降低天线的成本。

      4) 液晶移相器低时延技术

      突破液晶分子偏转时延引入的系统响应时间过长问题，探索快速响应液晶分子结构、超低液晶盒厚支撑工艺等技术，解决响应时延问题，支撑液晶相控阵天线的快速扫描应用需求。

      5) 液晶相控阵天线样机研制

      开展基于液晶可变移相技术的液晶相控阵天线样机研制，实现样机低剖面、低功耗设计。天线具备两维度宽角扫描能力，具备低副瓣等波束赋形能力。

考核指标：

      通过液晶相控阵天线技术研究，研制原理样机一台，达成技术指标如下：

1) 频率：接收19-19.5GHz，发射29.5-30GHz；

2) 天线EIRP≥45dBW；

3) G/T≥3dB/K；

4) 液晶移相器最小移相间隔：不小于5.625°；

5) 电磁调控时间:≤10ms；

6) 扫描范围：≥±45°(偏离法线)；

7) 申请专利不少于1项。

对揭榜方要求：

      揭榜单位需从事相控阵天线设计研制，具备天线设计、硬件设计、波束控制算法等方面的技术储备，具有支撑相控阵天线调试测试的仪器、暗室。